俄罗斯激情女同互慰在线_午夜AV在线观看一区二区_无码国产69精品久久久孕妇_久久综合伊人

產(chǎn)品中心您的位置:網(wǎng)站首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 粒度分析設備 > ZS 920 動(dòng)態(tài)光散射納米粒度儀 > S920動(dòng)態(tài)光散射納米粒度和zeta電位儀

動(dòng)態(tài)光散射納米粒度和zeta電位儀

更新時(shí)間:2024-01-03

訪(fǎng)問(wèn)量:2560

廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家

設備型號:S920

簡(jiǎn)要描述:
梓夢(mèng)科技動(dòng)態(tài)光散射納米粒度和zeta電位儀原理
當激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時(shí),由于顆粒的布朗運動(dòng)引起散射光的頻率偏移,導致散射光信號隨時(shí)間發(fā)生動(dòng)態(tài)變化,該變化的大小與顆粒的布朗運動(dòng)速度有關(guān),而顆粒的布朗運動(dòng)速度又取決于顆粒粒徑的大小,顆粒大布朗運動(dòng)速度低,反之顆粒小布朗運動(dòng)速度高
品牌其他品牌產(chǎn)地國產(chǎn)
產(chǎn)品新舊全新自動(dòng)化程度全自動(dòng)

動(dòng)態(tài)光散射納米粒度和zeta電位儀

梓夢(mèng)科技動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及zeta電位分析儀原理

當激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時(shí),由于顆粒的布朗運動(dòng)引起散射光的頻率偏移,導致散射光信號隨時(shí)間發(fā)生動(dòng)態(tài)變化,該變化的大小與顆粒的布朗運動(dòng)速度有關(guān),而顆粒的布朗運動(dòng)速度又取決于顆粒粒徑的大小,顆粒大布朗運動(dòng)速度低,反之顆粒小布朗運動(dòng)速度高,因此動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及zeta電位分析儀技術(shù)是分析樣品顆粒的散射光強隨時(shí)間的漲落規律,使用光子探測器在固定的角度采集散射光,通過(guò)相關(guān)器進(jìn)行自相關(guān)運算得到相關(guān)函數,再經(jīng)過(guò)數學(xué)反演獲得顆粒粒徑信息。


動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及zeta電位分析儀性能特點(diǎn)

1、高效的光路系統:采用固體激光器和一體化光纖技術(shù)集成的光路,充分滿(mǎn)足空間相干性的要求,極大地提高了散射光信號的信噪比。

2、高靈敏度光子探測器:采用計數型光電倍增管或雪崩光電二極管,對光子信號具有*的靈敏度和信噪比; 采用邊沿觸發(fā)模式對光子進(jìn)行計數,瞬間捕捉光子脈沖的變化。

3、大動(dòng)態(tài)范圍高速光子相關(guān)器:采用高、低速通道搭配的結構設計光子相關(guān)器,有效解決了硬件資源與通道數量之間的矛盾,實(shí)現了大的動(dòng)態(tài)范圍,并保證了相關(guān)函數基線(xiàn)的穩定性。

4、高精度溫控系統:基于半導體制冷技術(shù),采用自適應PID控制算法,使樣品池溫度控制精度達±0.1℃。

5、數據篩選功能:引入分位數檢測異常值的方法,鑒別受灰塵干擾的散射光數據,并剔除異常值,提高粒度測量結果的準確度。

6、優(yōu)化的反演算法:采用優(yōu)擬合累積反演算法計算平均粒徑及多分散系數,基于非負約束正則化算法反演顆粒粒度分布,測量結果的準確度和重復性都優(yōu)于1%。


納米粒度及zeta電位分析儀測量

納米粒度及zeta電位分析儀是表征分散體系穩定性的重要指標zeta電位愈高,顆粒間的相互排斥力越大,膠體體系愈穩定, 因此通過(guò)電泳光散射法測量zeta電位可以預測膠體的穩定性。


動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及zeta電位分析儀原理

帶電顆粒在電場(chǎng)力作用下向電極反方向做電泳運動(dòng),單位電場(chǎng)強度下的電泳速度定義為電泳遷移率。顆粒在電泳遷移時(shí),會(huì )帶著(zhù)緊密吸附層和部分擴散層一起移動(dòng),與液體之間形成滑動(dòng)面,滑動(dòng)面與液體內部的電位差即為zeta電位。Zeta電位與電泳遷移率的關(guān)系遵循 Henry方程,通過(guò)測量顆粒在電場(chǎng)中的電泳遷移率就能得出顆粒的zeta電位。


納米粒度及zeta電位分析儀性能特點(diǎn)

1.利用光纖技術(shù)集成發(fā)射光路和接收光路,替代傳統電泳光散射的分立光路,使參考光和散射光信號的傳輸不受灰塵和外界雜散光的干擾,有效地提高了信噪比和抗干擾能力。

2.先對散射光信號進(jìn)行頻譜預分析,獲取需要細化分析的頻譜范圍,然后在窄帶范圍內進(jìn)行高分辨率的頻譜細化分析,從而獲得準確的散射光頻移。

3.基于雙電層理論模型,求解顆粒的雙電層厚度,獲得準確的顆粒半徑與雙電層厚度的比值,再利用小二乘擬合算法獲得精確的Henry函數表達式,進(jìn)而有效提高了納米粒度及zeta電位分析儀的計算精度。

Henry函數的取值:

當雙電層厚度遠遠小于顆粒的半徑,即ka>>1,Henry函數近似為1.5。雙電層厚度遠遠大于顆粒半徑時(shí),即ka<<1,Henry函數近似為1.0。使用小二乘曲線(xiàn)擬合算法對Wiersema計算的精確Henry函數值進(jìn)行擬合, 得到優(yōu)化Henry函數表達式.


強大易用的控制軟件

ZS-920系列納米粒度及zeta電位分析儀的控制軟件具有納米顆粒粒度和zeta電位測量功能,一鍵式測量,自動(dòng)調整散射光強, 無(wú)需用戶(hù)干涉,自動(dòng)優(yōu)化光子相關(guān)器參數,以適應不同樣品,讓測量變得如此輕松??刂栖浖哂袠藴驶僮?SOP)功能,讓不同實(shí)驗室、不同實(shí)驗員間的測量按照同一標準進(jìn)行,測量結果更具有可比性。測量完成自動(dòng)生成報表,以可視化的方式展示測量結果,讓測量結果一目了然。

動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及zeta電位分析儀的技術(shù)指標

動(dòng)態(tài)光散射納米粒度和zeta電位儀






 

留言框

  • 產(chǎn)品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯(lián)系電話(huà):

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說(shuō)明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫(xiě)阿拉伯數字),如:三加四=7
    沒(méi)有相關(guān)產(chǎn)品信息...

聯(lián)